一、半导体制造中氧监测的重要性与难点
在半导体制造过程中,氧污染会引发不必要的氧化反应,导致集成电路和硅片产生缺陷,进而破坏薄膜结构的完整性,严重影响产品的均匀性与可靠性。因此,半导体制造商必须对工艺气体及设备腔室中的氧含量进行严格监控,即便是微量氧气(低至ppm级)也可能显著损害元件性能。
目前,半导体工艺气体中的氧监测主要面临以下技术难点:
需实现10 ppm以下超低浓度氧的精确检测;
需支持真空环境下的持续氧浓度监测;
需在还原性气氛中确保设备安全稳定运行。
在众多气体检测技术中,氧化锆传感器分析技术因其响应速度快、测量精度高、量程范围广、稳定性强及使用寿命长等优势,成为半导体行业氧浓度监测的理想选择。
另一方面,实现该类仪器的国产化已成为国家战略层面的迫切需求。目前微量氧分析设备仍主要依赖欧美日进口。根据2025年《政府工作报告》的要求,突破关键核心技术、推动国产替代,对保障产业链安全具有重大意义。
二、四方仪器的解决方案与创新实践
四方仪器长期专注于氧化锆传感器及气体分析仪的研发与推广。为满足半导体及电子行业对低浓度氧气检测日益提升的需求,公司成功开发出Gasboard-3050系列低浓度氧气分析仪。该系列产品分辨率达0.1 ppm,量程覆盖0–10 ppm至100% O₂,搭载经现场验证的氧化锆传感器,具备优异的再现性与高速响应特性。

图1 四方光电氧化锆传感器生产线及不同类型氧化锆传感器芯片产品
2.1 氧化锆氧传感器工作原理
氧化锆是一种优良的固体电解质材料。传统氧化锆氧传感器由多孔高温陶瓷电解质管构成,管内外壁均涂覆多孔铂层,分别作为阴极和阳极。传感器内置高性能陶瓷加热器与热电偶探头,共同维持可控的高温环境(通常为650℃)。

图2 氧化锆氧传感器原理图
当温度达到工作点时,氧化锆内的氧离子变得高度活跃,可快速迁移以平衡两侧氧分压差。若两侧氧分压不同,便会在电极间产生电位差,其大小符合能斯特方程:

其中,E为电动势(V),R为气体常数,T为绝对温度(K),F为法拉第常数,P₁和P₂分别为两侧氧分压。
2.2 Gasboard-3052微量氧分析仪
该型号采用远程原位传感器设计,特别适用于需持续监测氧浓度的场景,如半导体设备、手套箱、氮气管线、真空腔体及其他低氧/无氧环境。传感器可直接通过真空接头安装于真空腔体,广泛用于半导体制造、OLED生产、3D打印等使用惰性气体的工业场合。其氧化锆传感器寿命长、稳定性高,在适当维护条件下可多年免更换。

图3 Gasboard-3052微量氧分析仪
产品主要特点:
• 量程:0.1 ppm~1000 ppm,覆盖多数半导体真空腔体监测需求;
• 法兰接口,即插即用;
• 长效低温氧化锆传感器;
• 支持真空环境运行;
• 泄漏率<1×10⁻⁹ mbar·L/s。
2.3 Gasboard-3053氧分析仪
该型号为抽取集成式设计,整合了宽量程氧化锆传感器、前处理单元和采样泵,适用于除真空腔体外的多种应用场景,如SMT工艺中的回流焊炉等。

图4 Gasboard-3053 氧分析仪
产品主要特点:
• 量程范围宽:0.1 ppm~100%,适应浓度波动大的场合;
• 压力变化自适应:内置压力传感器,可补偿气体压力微小变化,保证读数稳定;
• 适用于还原性气氛:当样品含可燃物时,铂催化剂确保气体在接触电极前达到平衡,从而准确测量总氧含量。
3. 典型应用场景
四方仪器Gasboard-3050系列可满足半导体及相关领域绝大多数氧浓度监测需求,典型应用包括但不限于:
